PEMBUATAN KOMPOSIT BLOK REM KERETA API MENGGUNAKAN PASIR BESI DAN SERBUK KARBON

PEMBUATAN KOMPOSIT BLOK REM KERETA API MENGGUNAKAN PASIR BESI DAN SERBUK KARBON

Tugas akhir ini bertujuan untuk mengetahui proses pembuatan blok rem komposit dengan serbuk karbon pada kereta api serta mengetahui karakteristiknya. Pada penelitian ini menggunakan tiga variasi komposisi dengan menggunakan fraksi berat meliputi 70 gram resin epoxy + 15 gram pasir besi + 15 gram serbuk karbon, 65 gram resin epoxy + 15 gram pasir besi + 20 gram serbuk karbon, dan 55 gram resin epoxy + 15 gram pasir besi + 30 gram serbuk karbon. Pembuatan blok rem komposit menggunakan metode vacuum infusion. Langkah yang digunakan dalam penelitian ini yaitu pembuatan spesimen kemudian dilakukan pengujian kekerasan shore D menggunakan standar ASTM D2240, pengujian keausan pin on disc menggunakan standar ASTM G99, pengujian bending menggunakan standar ASTM D790 dan pengujian scanning electron microscope (SEM). Setelah dilakukan pengujian dari beberapa spesimen, hasil pengujian kekerasan dengan ketiga variasi diperoleh nilai rata – rata kekerasan untuk masing – masing spesimen sebesar 102,66 HRR, 94,66 HRR, dan 90,88 HRR. Hasil uji keausan pin on disc didapatkan nilai rata – rata untuk masing – masing spesimen sebesar 1,81104 × 10-6 mm2/Kg, 1,58497 × 10-6 mm2/Kg, dan 8,63675 × 10-7 mm2/Kg. Hasil uji bending didapatkan nilai rata – rata untuk masing – masing spesimen sebesar 4976 (N/cm2), 5985 (N/cm2), dan 3207 (N/cm2). Sedangkan hasil uji scanning electron microscope (SEM) diketahui bahwa spesimen dengan kode A penyebaran karbon lebih merata, tetapi masih ada beberapa pori – pori kecil yang disebabkan dari sifat karbon dan udara yang masuk pada proses pembuatan spesimen. Dapat diambil kesimpulan bahwa untuk hasil uji kekerasan dan bending telah memenuhi standar blok rem komposit tetapi belum memenuhi nilai keausan blok rem komposit.

Kata kunci: blok rem komposit kereta api, serbuk karbon, uji bending , uji keausan pin on disc, uji kekerasan shore D, dan uji scanning electron microscope (sem).